• 分類：新聞中心
• 作者：Tansi
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• 發(fā)布時間：2024-12-17 17:17
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【概要描述】 加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線顯微鏡（Micro CT）是一款先進的微型計算機斷層掃描系統(tǒng)，專為科研和工業(yè)應用而設計，能夠提供高分辨率、高細節(jié)的非破壞性檢測成像。該設備具有兩種X射線探測器選項：BrillianSe直接轉換探測器或Reveal平板探測器，采用可更換的模塊化設計，實現創(chuàng)新的相位對比成像或光譜成像功能。 特點和應用 1. 相襯成像： 適用于低密度材料或細微結構差異的檢測，例如聚合物或生物組織。 提高了傳統(tǒng)X射線技術難以捕捉的細節(jié)可見度。 2. 光譜成像： 支持單次掃描實現多種材料的區(qū)分，大幅提升效率和材料分析的精確度。 適用于需要高靈敏度的多材料檢測場景。 3. 適用領域： 工業(yè)中的材料分析和組件檢測（例如航空航天、建筑與安防領域）。 科研中用于更精細的結構研究和復雜樣品的無損分析。 其它優(yōu)勢 1. 與傳統(tǒng)X射線或掃描電子顯微鏡（SEM）系統(tǒng)相比，能夠更好地展示精細特征，同時確保材料的完整性。 2. 支持雙能X射線成像功能，一次掃描可獲取三張圖像，無運動偽影，大大提高了生產力和分析效率。 inCiTe 2.0系統(tǒng)具有雙探測器的兼容設計和用戶友好的操作界面，必將成為學術和工業(yè)領域的理想解決方案。